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        源興光學探討PCB板常用的檢測方法
        1. [日期:2019-09-19 查看次數:2369]

        印制電路板——PCB線路板,又稱印刷電路板,是電子元器件電氣連接的提供者。它的發展已有100多年的歷史了。它的設計主要是版圖設計,采用電路板的主要優點是大大減少布線和裝配的差錯,提高了自動化水平和生產勞動率。按照線路板層數可分為單面板、雙面板、四層板、六層板以及其他多層線路板。


        為了保證PCB板的生產質量,廠家在生產的過程中經過了多種檢測方法,每種檢測方法都會針對不同的PCB板的瑕疵,下面源興光學給大家簡單介紹一下PCB板常用檢測方法。


        1、人工目測


        主要工具:放大鏡或校準的顯微鏡。利用操作人員視覺檢查來確定電路板合不合格,并確定什么時候需進行校正操作,是zui傳統的檢測方法。


        主要優點是成本低,缺點是人的主觀誤差、長期成本較高、不連續的缺陷發覺、數據收集困難等。目前由于PCB的產量增加,PCB上導線間距與元件體積的縮小,這個方法的劣勢也越來越明顯。


        2、在線測試


        主要工具:針床式測試儀和飛針測試儀。通過對電性能的檢測找出制造缺陷以及測試模擬、數字和混合信號的元件,以保證它們符合規格。


        主要優點是每個板的測試成本低、數字與功能測試能力強、快速和徹底的短路與開路測試、編程固件、缺陷覆蓋率高和易于編程等。缺點是,需要測試夾具、編程與調試時間、制作夾具的成本較高,使用難度大等問題。





        3、PCB板功能測試


        功能系統測試是在生產線的中間階段和末端利用專門的測試設備,對電路板的功能模塊進行全面的測試,用以確認電路板的好壞。功能測試可以說是zui早的自動測試原理,它基于特定板或特定單元,可用各種設備來完成。有zui終產品測試、zui新實體模型和堆砌式測試等類型。


        功能測試通常不提供用于過程改進的腳級和元件級診斷等深層數據,而且需要專門設備及專門設計的測試流程,編寫功能測試程序復雜,因此不適用于大多數電路板生產線。


        4、自動X光檢查


        利用不同物質對X光的吸收率的不同,透視需要檢測的部位,發現缺陷。主要用于檢測超細間距和超高密度電路板以及裝配工藝過程中產生的橋接、丟片、對準不良等缺陷,還可利用其層析成像技術檢測IC芯片內部缺陷。


        它是現時測試球柵陣列焊接質量和被遮擋的錫球的唯yi方法。主要優點是能夠檢測BGA焊接質量和嵌人式元件、無夾具成本。日聯科技生產的X-ray檢測設備非常合適PCB板檢測,具有高清晰的X-ray圖像,同時具備分析缺陷(例如:開路,短路,漏焊等)的功能。不僅僅如此,日聯科技生產的X-ray檢測儀還有足夠的放大倍率,可以讓生產者非常方便的看到詳細的產品缺陷,從而滿足現在與未來的需求。



        源興光學線路板X光檢查機用于PCB壓合和鉆孔工序檢查內層孔位對位精度觀測及測量。可以對圖像進行各種測量:圓心位置,點與點距離,圓形面積等,并可根據設定參數進行判定。


        5、自動光學檢測


        自動光學檢測也稱為自動視覺檢測,是基于光學原理,綜合采用圖像分析、計算機和自動控制等多種技術,對生產中遇到的缺陷進行檢測和處理,是較新的確認制造缺陷的方法。


        AOI通常在回流前后、電氣測試之前使用,提高電氣處理或功能測試階段的合格率,此時糾正缺陷的成本遠遠低于zui終測試之后進行的成本,常達到十幾倍。


        6、激光檢測系統


        它是PCB測試技術的zui新發展。它利用激光束掃描印制板,收集所有測量數據,并將實際測量值與預置的合格極限值進行比較。這種技術己經在光板上得到證實,正考慮用于裝配板測試,速度己足夠用于批量生產線。快速輸出、不要求夾具和視覺非遮蓋訪問是其主要優點;初始成本高、維護和使用問題多是其主要缺點。


        7、尺寸檢測


        主要工具:二次元影像測量。測量孔位,長寬,位置度等尺寸。由于PCB屬于“小薄軟”類型的產品,接觸式的測量很容易產生變形進而導致測量不準確,二次元影像測量儀就成為了zui佳的高精度尺寸測量儀器。


        廣東源興光學儀器有限公司成立于1998年,專業生產實驗室儀器的工廠,獲得高新技術企業和軟件產品。坐落于廣東省東莞市東城區牛山興華工業區G棟,擁有光、機、電高ji研發團隊,具有機構、軟件和控制器開發實力,多項專利。


        公司針對PCB/FPC行業研發的全自動影像測量儀、全自動線寬測量儀、X光檢查機、檢孔機等光學檢測設備,實驗室金相分析儀器(研磨機、自動取樣機、金相顯微鏡),物理化學分析儀器(剝離強度測試儀、錫爐、長臂板厚測試儀、槽殘厚測試儀、離子污染測試儀等)均具有自主知識產權,性能達到國內ling先水平。


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