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| 金相顯微鏡YX-JX3 |
儀器用途：
用于PCB電路板金相分析微切片的測量和分析
儀器特點：
1.光學系統 采用無限遠色差校正光學系統
2.軟件通俗易懂，可實現點、線、圓弧、半徑、直徑、角度等測量，可根據客戶要求定制軟件功
技術參數：
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項目 |
主要技術參數 |
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型號 |
YX-JX30 |
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光學放大倍率 |
50X～500X |
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目鏡 |
10X（帶測微尺） |
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物鏡 |
5X、10X、20X、50X |
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轉換器 |
四孔滾珠式轉換器 |
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照明系統 |
落射照明裝置：高亮度LED燈照明，亮度可調， |
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CCD相機 |
300萬像素高清攝像機 |
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測量精度 |
0.0012mm |
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載物臺
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雙層機械載物190X140mm.移動范圍：75X50mm |
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樣品高度 |
最大樣品高度 28mm |
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測量軟件： |
YX-J |
主營離子污染測試儀,自動影像測量儀,尺寸快速測量儀,2.5次元測量儀
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