X熒光光譜儀(XRF)由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管產生入射X射線(一次X射線)，激發被測樣品，產生X熒光(二次X射線)，探測器對X熒光進行檢測。

一、X熒光光譜儀技術原理：

受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后，儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。

元素的原子受到高能輻射激發而引起內層電子的躍遷，同時發射出具有一定特殊性波長的X射線，根據莫斯萊定律，熒光X射線的波長λ與元素的原子序數Z有關，其數學關系如下：

λ=K(Zs)2

式中K和S是常數。

而根據量子理論，X射線可以看成由一種量子或光子組成的粒子流，每個光具有的能量為：

E=hν=hC/λ

式中，E為X射線光子的能量，單位為keV；h為普朗克常數；ν為光波的頻率；C為光速。

因此,只要測出熒光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類，這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系，據此，可以進行元素定量分析。

二、產品特點

1.鍍層檢測，zui多鍍層檢測可達5層。

2.對于薄鍍層分析精確，可以精確的分析小于1uin(0.025um）的鍍層，可以準確分析0.2-0.5uin的金層。

3.可同時進行選配RoHS檢測功能，精確的測試RoHS指令中的鉛、汞、鎘、鉻、鋇、銻、硒、砷等重金屬，測試無鹵素指令中的溴、氯等有害元素。

4.可同時進行選配鍍液藥水分析功能，一分鐘即可分析出藥水內金，鎳，銅等藥水含量，分析精度為0.01ppm，

5.可同時進行選配合金成分分析功能。

6.開槽式超大可移動，源興二次元全自動樣品平臺610*525(長*寬)，樣品移動距離可達112*2X5mm(長*寬*高)；專為線路板行業研制。

7.激光定位，可以連續自動多點程控測量；

8.可以選配多準直器系統，單準直器/6個準直器/7個準直器。

9.可檢測固體、液體、粉末狀態材料；

10.運行及維護成本低、無易損易耗品，對使用環境相對要求低；

11.可進行未知標樣掃描、無標樣定性，半定量分析；

12.操作簡單、易學易懂、高品質、高性能、高穩定性，快速出檢測結果（20-40秒）；

13.標配德國AmptekSI-Pin探測器，選配高精度硅漂移SDD探測器，保證測試精度。

14.軟件支持無標樣分析。

15.相對于傳統鍍層，開機不需要預熱，直接可以測量，測量后可以直接關機，節約用電，減少關鍵部件（X射線管，高壓等）消耗，并減少了等待時間。